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统计过程控制与诊断.pdf

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统计过程控制与诊断 张公绪、孙静合着系列讲座 张公绪 1932 年 3 月生,毕业于上海交通大学电信工程系,我国着 名 质量统计专家。 曾任北京科技大学管理科学研究所教授、 中国质量协 会副会长等多项职务;1980 年提出了选控图系列,1982 年首次提 出 了两种质量诊断理论,将 SPC (统计过程控制)理论上升为 SPD(统 计过程诊断)理论,并于 1987 年荣获国家科技进步奖。 孙静, 清华大学经济管理学院副教授。 生 于 1970 年,1994 年获天 津 大学工学硕士学位,1999 年获北京航空航天大学管理学博士学位。 曾在哈佛商学院短期学习,在麻省理工学院(MIT) 和香港科技大学做 访问学者。 营运管理部·评估管理 2010 年 04 月 18 日
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